Ученые из ННГУ им. Н. И. Лобачевского в сотрудничестве с международной командой исследователей представили уникальную разработку, которая способна кардинально изменить процесс диагностики эпилепсии. Новое программное обеспечение позволяет выявлять локализацию эпилептического очага в головном мозге, сокращая время анализа данных с долгих часов до нескольких минут.
В чем суть проблемы?
Эпилептический приступ провоцируется «сбоем» в работе нейронов в конкретной области мозга: из-за нарушения баланса возбуждения и торможения там формируется зона повышенной чувствительности. От того, где именно находится этот участок (в лобной, височной, теменной или затылочной доле), зависит стратегия лечения пациента.
Традиционный метод диагностики требует от пациента ношения датчиков на протяжении суток, а врачу приходится вручную просматривать огромные массивы данных ЭЭГ в поисках редких судорожных разрядов. Это не только утомительно, но и долго.
Революционный алгоритм
Разработанная нижегородскими экспертами программа использует принципиально иной подход. Вместо того чтобы ждать проявления судорожной активности, алгоритм анализирует фоновую электроэнцефалограмму — запись ритмов мозга в спокойном состоянии. На основе этих данных система не только подтверждает наличие заболевания, но и с высокой точностью определяет, в какой части мозга «спрятан» очаг патологии.
Масштаб сотрудничества и перспективы
В работе над проектом приняли участие специалисты из ведущих российских вузов (включая Пироговский университет и ПИМУ), а также эксперты из Политехнического университета Мадрида. Проект был реализован при поддержке Минэкономразвития РФ на базе исследовательского центра ИИ ННГУ.
На текущем этапе алгоритм успешно прошел проверку на данных из открытых источников. Впереди у исследователей — адаптация программы для реальной клинической практики, чтобы врачи-эпилептологи могли использовать этот мощный инструмент для ускорения постановки точного диагноза и назначения эффективного лечения.
Результаты этого важного исследования уже опубликованы в международном научном журнале Technologies.
